Scanning Electron Microscopy of Plastics Failure

Gottfried Wilhelm Ehrenstein, Lothar Engel, Hermann Klingele, Helmut Schaper

Scanning Electron Microscopy of Plastics Failure

Der Einsatz von Rasterelektronenmikroskopen (REM) erweitert den Erkenntnisbereich für die Schadensforschung ganz wesentlich. Die hohen, mit REM ... Mehr

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11/2010

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